1電子元器件介質損耗測試儀生產廠家產品特點

 介電(dian)常(chang)數及介質損耗(hao)測試儀讀書清(qing)晰,無須換算(suan),操作簡便,特(te)別(bie)適合(he)電(dian)子(zi)元器件的質量分析,品質控制,科研生產,也可用于高校的電(dian)子(zi)信(xin)息,電(dian)子(zi)通信(xin),材(cai)料(liao)科學等專業作科研實(shi)驗儀器.

2電子元器件介質損耗測試儀生產廠家.技術指標

2.1  測量范圍及誤差

    本電橋(qiao)的環境溫度為(wei)(wei)20±5℃，相(xiang)對濕度為(wei)(wei)30％－80％條件下，應滿(man)足

下列表中的技術(shu)指示要(yao)求。

    在Cn＝100pF    R4＝3183.2（W）（即10K/π）時

    測(ce)量項目       測(ce)量范圍             測(ce)量誤差             

    電容(rong)量Cx  ;     40pF--20000pF      ±0.5% ; Cx±2pF   

    介質損耗tgd      0～1              ±1.5％tgdx±0.0001

    在Cn＝100pF      R4＝318.3（W）（即(ji)1K/π）時

    測(ce)量項目       測(ce)量范圍             測(ce)量誤差             

    電容量Cx       4pF--2000pF      ±0.5%  Cx±3pF   

    介質損耗(hao)tgd      0～0.1          ±1.5％tgdx±0.0001

2.2  電橋測(ce)量靈敏度

    電(dian)橋(qiao)在使用過程(cheng)(cheng)中(zhong)，靈(ling)敏度(du)(du)直(zhi)接影響(xiang)電(dian)橋(qiao)平衡的分辨程(cheng)(cheng)度(du)(du)，為保證測(ce)量(liang)準確度(du)(du)，

希(xi)望(wang)電(dian)(dian)橋靈(ling)敏度達到(dao)一定的(de)水(shui)平。通常情(qing)況(kuang)下電(dian)(dian)橋靈(ling)敏度與測量電(dian)(dian)壓，標準電(dian)(dian)容量

成正比。

    在(zai)下面(mian)的計算公式中，用戶可根(gen)據實際使(shi)用情況估算出電橋靈敏度水平，在(zai)這

個水平上的(de)電容與介質(zhi)損耗因(yin)數(shu)的(de)微小(xiao)變化都能(neng)夠反應出來(lai)。

          DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx) 

         式中(zhong)：Ｕ為(wei)測量電壓                     伏特（Ｖ）

ω為角頻(pin)率(lv) 2pf=314(50Hz)                          

          Ｃｎ標準電(dian)容(rong)器容(rong)量(liang)                    皮法（pＦ）

          Ｉｇ通用指(zhi)另儀的電流5X10-10            安培（Ａ）

  ;        Ｒｇ平衡指另儀內阻約1500              歐姆(mu)（W）

          Ｒ４橋臂(bei)R4電阻值3183                 歐(ou)姆（W）

          Ｃｘ被測試品(pin)電容值(zhi)                    皮法(fa)（ｐF）

2.3 電容量及介損(sun)顯(xian)示(shi)精度：

    電容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。

    介  損： ±0.5％tgdx±1×10-4

2.4 輔(fu)橋的技術特(te)性(xing)：

    工作電壓±12V，50Hz

    輸入阻抗>1012　W

    輸出阻(zu)抗(kang)>0.6 W

    放大倍數>0.99

    不失真跟蹤電壓  0～12V（有效值）

2.5 指(zhi)另裝置的(de)技術特(te)性：

    工作電壓(ya)±12V

    在50Hz時(shi)電壓靈(ling)敏度(du)不低(di)于1X10-6V／格， 電流靈(ling)敏度(du)不低(di)于2X10-9A／格

    二(er)次諧(xie)波(bo)  減不小(xiao)于25db

    三(san)次諧(xie)波  減(jian)不小于50db

技術參數：

1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
     頻率范圍（100kHz～10MHz）： 頻率范圍（10MHz～160MHz）：
     固有誤差：≤5％±滿度值的2% 固有誤差：≤6％±滿度值的2%
     工作誤差：≤7％±滿度值的2% 工作誤差：≤8％±滿度值的2%
2．電感測量范圍：4.5nH~7.9mH
3．電容測量：1~205
     主電容調節范圍：18～220pF
     準確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%
     注：大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明
4.  信號源頻率覆蓋范圍
     頻率范圍CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,
     CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,
5．Q合格指示預置功能:      預置范圍：5～1000。
6．B-測試儀正常工作條件
a.  環境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c. 外型尺寸(cun)：（l×b×h）mm：380×132×280。

是根據GB/T 1409《測量電(dian)氣絕緣(yuan)材(cai)料(liao)在(zai)工(gong)頻(pin)、音頻(pin)、高(gao)頻(pin)（包括(kuo)米(mi)波(bo)波(bo)長在(zai)內）下電(dian)容率(lv)和(he)(he)介質(zhi)損耗(hao)因(yin)數的試(shi)(shi)驗(yan)方法》（等效采用IEC 60250）設計和(he)(he)制造的，并符合JB 7770等試(shi)(shi)驗(yan)方法。它適用于在(zai)高(gao)頻(pin)（1MHz）下絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的測試(shi)(shi)。

作為一代的(de)通用(yong)、多用(yong)途、多量程的(de)阻抗測試儀(yi)器，測試頻(pin)率上限(xian)達到目前高的(de)160MHz。

1 雙掃描技術 - 測試頻率(lv)和調諧電容(rong)的雙掃描、自動調諧搜(sou)索功能。

2 雙測試(shi)要素輸入(ru) - 測試(shi)頻率及(ji)調(diao)諧電容值皆可通過數字按鍵輸入(ru)。

3 雙數碼(ma)(ma)化調諧 - 數碼(ma)(ma)化頻率調諧，數碼(ma)(ma)化電容調諧。

4 自動(dong)化測量(liang)技術 -對測試(shi)件實(shi)施(shi) Q 值、諧振點頻率和電容的(de)自動(dong)測量(liang)。

5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電(dian)容(rong)、電(dian)感、 Q 值、信號源頻(pin)率(lv)、諧振指針。

6 DDS 數字(zi)直接(jie)合成的(de)信號(hao)源(yuan) -確保信源(yuan)的(de)高葆真，頻(pin)率的(de)高精確、幅度的(de)高穩定。

7 計算機自動修正技術(shu)和(he)測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減(jian)至zui低， Q 讀數值在(zai)不(bu)同(tong)頻(pin)率時要加以修正的困惑。

特點：
◆ 優化的測試電路設計使殘值更小
◆ 高頻信號采用數碼調諧器和頻率鎖定技術
◆ LED 數字讀出品質因數，手動/自動量程切換
◆ 自動掃描(miao)被(bei)測件(jian)諧振點，標頻單(dan)鍵設置和鎖定(ding)，大大提(ti)高測試速(su)度(du)

相關產品
BDJC-50KV系類介電擊穿強度試驗儀/介電擊穿強度測試儀
BEST-121系類絕緣材料體積電阻率和表面電阻率測試儀
GDAT-C系類介電常數介質損耗測試儀
M-200系類塑料滑動摩擦磨損試驗機
BDH-20系類耐電弧測試儀/高電壓小電流試驗儀
BLD-600系類漏電起痕試驗儀/高壓漏電起痕試驗機
BRS-3系類(lei)水平垂直燃燒試驗儀/灼(zhuo)熱絲(si)試驗儀/針焰試驗儀

售后服務
一、安裝調試：協助試驗機的安裝，負責試驗機的運輸、調試。
二、驗收標準：試驗機按訂貨技術附件進行驗收。終驗收在買方進行，對用戶提供的試樣進行試驗，并提供測試報告。
三、培訓：安裝調試同時，在儀器操作現場一次性免費培訓操作人員2-3名，該操作人員應是由需方選派的長期穩定的員工，培訓后能夠對設備基本原理、軟件使用、操作、維護事項理解和應用，使人員能夠獨立操作設備對樣品進行檢測、分析，同時能進行基本的維護。
四、軟件升級：終生免(mian)費(fei)提供新版本控制軟件。

保修：
1、設備保修兩年，終身售后服務，兩年內非人為損壞的零部件免費更換，保修期內接到用戶邀請后， zui遲響應時間為2小時內，在與用戶確認故障后，我公司會在48小時內派工程師到達現場進行免費服務，盡快查清故障所在位置和故障原因，并向用戶及時報告故障的原因和排除辦法 。
2、保修期內人為損壞的零部件按采購（加工）價格收費更換。
3、保修期外繼續為用戶提供優質技術服務，在接到用戶維修邀請后3天內派工程師到達用戶現場進行維修。并享有優惠購買零配件的待遇。
4、傳(chuan)感(gan)器過載及整(zheng)機電路超壓損(sun)壞不在保(bao)修(xiu)范圍內。

標準配置：
高配Q表 一只 
試驗電極  一只 （c類）
電感      一套（9只）
電源線    一條
說明書    一份
合格證    一份
保(bao)修卡    一份

使用方法

高頻(pin)Q表(biao)是(shi)多(duo)用途的阻抗測(ce)量(liang)儀器，為了提(ti)高測(ce)量(liang)精度，除了使(shi)Q表(biao)測(ce)試回(hui)路(lu)(lu)本身殘余參(can)量(liang)盡可能地小(xiao)，使(shi)耦合回(hui)路(lu)(lu)的頻(pin)響盡可能地好之外，還要(yao)掌握正(zheng)確(que)的測(ce)試方法和殘余參(can)數修正(zheng)方法。

1．測試注意事項

a．本儀(yi)器(qi)應水(shui)平安放；

b．如果你需要(yao)較精確地測量，請接通電源(yuan)后(hou)，預熱(re)30分鐘(zhong)；

c．調(diao)(diao)節主調(diao)(diao)電(dian)容(rong)或主調(diao)(diao)電(dian)容(rong)數碼開關時，當接(jie)近諧振點時請緩(huan)調(diao)(diao)；

d．被測(ce)件和(he)測(ce)試電路接(jie)(jie)線(xian)柱間的接(jie)(jie)線(xian)應盡量短，足夠粗，并應接(jie)(jie)觸良好、可(ke)靠，以減少因接(jie)(jie)線(xian)的電阻和(he)分布參數所帶(dai)來的測(ce)量誤差；

e．被測件(jian)不(bu)要直接擱在面板頂(ding)部，離頂(ding)部一(yi)公分(fen)以上，必要時可用(yong)低損耗的絕緣材(cai)料如(ru)聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；

f．手不得靠(kao)近試(shi)件，以免人體感應影響造(zao)成測量誤差，有屏(ping)蔽(bi)的試(shi)件，屏(ping)蔽(bi)罩應連(lian)接在低(di)電位端的接線柱。

2．高頻線圈的(de)Q值測(ce)量（基本測(ce)量法(fa)）

特點：

◎ 本公(gong)司創(chuang)新的自動Q值保(bao)持技(ji)術(shu)，使測Q分辨率(lv)至0.1Q，使tan&delta;分辨率(lv)至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在(zai)10kHz～120MHz介質損(sun)耗角(jiao)(tanδ)和介電(dian)常數(shu)(ε)變化的測(ce)試。

◎ 調諧回路(lu)殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(de)(de)(tanδ)和(&epsilon;)的(de)(de)誤差較小。

◎ 特(te)制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值(zhi)，測試(shi)頻率(lv)，調諧(xie)狀態(tai)等。

◎ Q值量(liang)程自動/手動量(liang)程控制。

◎ DPLL合(he)成發生(sheng)1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號 源輸(shu)出口(kou)，所以本機又是一臺合(he)成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美(mei)標ASTM D150以及IEC60250規范(fan)要求。

絕緣材料的介質損耗自動測量解決方案簡介
滿足標準：GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在
內）下電容率和介質損耗因數的推薦(jian)方法